Y. Shvartzvald, Udalski, A., Gould, A., Han, C., Bozza, V., Friedmann, M., Hundertmark, M., ,, Beichman, C., Bryden, G., S. Novati, C., Carey, S., Fausnaugh, M., Gaudi, B. S., Henderson, C. B., Kerr, T., Pogge, R. W., Varricatt, W., Wibking, B., Yee, J. C., Zhu, W., Team, S., Poleski, R., Pawlak, M., Szymański, M. K., Skowron, J., Mróz, P., Kozłowski, S., Wyrzykowski, Ł., Pietrukowicz, P., Pietrzyński, G., Soszyński, I., Ulaczyk, K., Group, O. G. L. E., Choi, J. - Y., Park, H., Jung, Y. K., Shin, I. - G., Albrow, M. D., Park, B. - G., Kim, S. - L., Lee, C. - U., Cha, S. - M., Kim, D. - J., Lee, Y., Group, K. M. T. N., Maoz, D., Kaspi, S., Group, W., Street, R. A., Tsapras, Y., Bachelet, E., Dominik, M., Bramich, D. M., Horne, K., Snodgrass, C., Steele, I. A., Menzies, J., R. Jaimes, F., Wambsganss, J., Schmidt, R., Cassan, A., Ranc, C., Mao, S., Dong, S., ,, D'Ago, G., Scarpetta, G., Verma, P., Jørgensen, U. G., Kerins, E., Skottfelt, J., and , “Spitzer Microlens Measurement of a Massive Remnant in a Well-separated Binary”,
apj, vol. 814, p. 111, 2015.